10月22日-23日，由中國計量測試學會、全國顯示產業計量測試聯盟聯合主辦，中國計量科學研究院承辦，國家平板顯示產業計量測試中心（廈門、蘇州）、華東電子測量儀器研究所光電計量校準中心協辦的“第四屆國際顯示產業計量測試高峰論壇暨中國計量測試學會2019年全國顯示產業計量測試聯盟會”順利在京召開。來自國內外顯示相關的計量技術機構、高校、科研院所及生產企業、知名儀器設備廠家的近200位代表參加了此次高峰論壇。10月22日-23日，由中國計量測試學會、全國顯示產業計量測試聯盟聯合主辦，中國計量科學研究院承辦，國家平板顯示產業計量測試中心（廈門、蘇州）、華東電子測量儀器研究所光電計量校準中心協辦的“第四屆國際顯示產業計量測試高峰論壇暨中國計量測試學會2019年全國顯示產業計量測試聯盟會”順利在京召開。來自國內外顯示相關的計量技術機構、高校、科研院所及生產企業、知名儀器設備廠家的近200位代表參加了此次高峰論壇。
論壇由全國顯示產業計量測試聯盟陳赤秘書長主持，中國計量測試學會蒲長城理事長、國家市場監督管理總局杜躍軍副司長、中國工程院許祖彥院士、譚久彬院士、李天初院士、中國計量科學研究院滕俊恒副院長等領導和專家出席。中國計量測試學會蒲長城理事長在致辭中指出顯示產業發展需同仁攜手打造開放共享的產學研用多維度合作平臺和產業協同創新共同體，激發顯示產業創新活力。
本次論壇以“顯乎其微，示乎其大”為主題，圍繞顯示企業創新與轉型、產學研用深度融合和顯示產業前瞻技術和未來發展趨勢展開百家爭鳴。譚久彬院士做了“新一代國家測量體系與制造質量提升”的大會特邀報告；近三十位來自國內外的顯示專家學者和產業代表就顯示標準、新型顯示器件領域關鍵參數測試方法、顯示與視覺、醫療健康和芯片等交叉融合等分別做了主題報告。同時各專家學者就Mura算法與DeMura等應用進行了專題高峰圓桌對話，深入交流和探討了Mura算法與Demura技術發展。論壇還發布了“手機、顯示屏關鍵參數測試評價方案及評價結果”，對消費者如何科學使用顯示產品、減小顯示屏藍光危害有重要指導意義。
本次論壇得到了各界的廣泛關注和支持。同期，全國顯示產業計量測試聯盟舉行了院士等專家顧問受聘儀式；舉辦了“第四屆顯示產業計量與檢測設備精品展”，顯示相關企事業單位進行了黑科技新產品和新技術展示，是顯示行業思想碰撞和視覺體驗的盛宴。
本次論壇為國內外顯示相關產業搭建了良好的合作交流平臺，有利于促進顯示產業高質量發展。據悉，全國顯示產業計量測試聯盟已發展為由來自顯示企業、高校、科研院所、計量機構、設備廠商等產業內80多家單位組成的產業協同創新共同體。
